功能测试的功能测试
Functionaltesting（功能测试），也称为behavioraltesting（行为测试），根据产品特性、操作描述和用户方案，测试一个产品的特性和可操作行为以确定它们满足设计需求。本地化软件的功能测试，用于验证应用程序或网站对目标用户能正确工作。使用适当的平台、浏览器和测试脚本，以保证目标用户的体验将足够好，就像应用程序是专门为该市场开发的一样。功能测试是为了确保程序以期望的方式运行而按功能要求对软件进行的测试，通过对一个系统的所有的特性和功能都进行测试确保符合需求和规范。
功能测试也叫黑盒测试或数据驱动测试，只需考虑需要测试的各个功能，不需要考虑整个软件的内部结构及代码.一般从软件产品的界面、架构出发，按照需求编写出来的测试用例，输入数据在预期结果和实际结果之间进行评测，进而提出更加使产品达到用户使用的要求。应用电子技术方面的测试：文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
印刷电路板，又称印制电路板，印刷线路板，常使用英文缩写PCB（Printedcircuitboard），是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，是电子元器件线路连接的提供者。由于它是采用电子印刷技术制作的，故被称为“印刷”电路板。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
在印制电路板出现之前，电子元件之间的互连都是依靠电线直接连接而组成完整的线路。电路面包板只是作为有效的实验工具而存在，而印刷电路板在电子工业中已经成了占据了绝对统治的地位。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
20世纪初，人们为了简化电子机器的制作，减少电子零件间的配线，降低制作成本等优点，于是开始钻研以印刷的方式取代配线的方法。三十年间，不断有工程师提出在绝缘的基板上加以金属导体作配线。而最成功的是1925年，美国的CharlesDucas在绝缘的基板上印刷出线路图案，再以电镀的方式，成功建立导体作配线。[1]文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
直至1936年，奥地利人保罗·爱斯勒（PaulEisler）在英国发表了箔膜技术，他在一个收音机装置内采用了印刷电路板；而在日本，宫本喜之助以喷附配线法“メタリコン法吹着配线方法（特许119384号）”成功申请专利。而两者中PaulEisler的方法与现今的印刷电路板最为相似，这类做法称为减去法，是把不需要的金属除去；而CharlesDucas、宫本喜之助的做法是只加上所需的配线，称为加成法。虽然如此，但因为当时的电子零件发热量大，两者的基板也难以配合使用[1]，以致未有正式的实用作，不过也使印刷电路技术更进一步。1941年，美国在滑石上漆上铜膏作配线，以制作近接信管。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
1943年，美国人将该技术大量使用于军用收音机内。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
1947年，环氧树脂开始用作制造基板。同时NBS开始研究以印刷电路技术形成线圈、电容器、电阻器等制造技术。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
1948年，美国正式认可这个发明用于商业用途。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
自20世纪50年代起，发热量较低的晶体管大量取代了真空管的地位，印刷电路版技术才开始被广泛采用。而当时以蚀刻箔膜技术为主流[1]。文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
1950年，日本使用玻璃基板上以银漆作配线；和以酚醛树脂制的纸质酚醛基板（CCL）上以铜箔作配线。[1]文章源自玩技e族-https://www.playezu.com/698006.html
1951年，聚酰亚胺的出现，便树脂的耐热性再进一步，也制造了聚亚酰胺基板。[1]
1953年，Motorola开发出电镀贯穿孔法的双面板。这方法也应用到后期的多层电路板上。[1]
印刷电路板广泛被使用10年后的60年代，其技术也日益成熟。而自从Motorola的双面板面世，多层印刷电路板开始出现，使配线与基板面积之比更为提高。
1960年，V.Dahlgreen以印有电路的金属箔膜贴在热可塑性的塑胶中，造出软性印刷电路板。[1]
1961年，美国的HazeltineCorporation参考了电镀贯穿孔法，制作出多层板。[1]
1967年，发表了增层法之一的“Plated-uptechnology”。[1][3]
1969年，FD-R以聚酰亚胺制造了软性印刷电路板。[1]
1979年，Pactel发表了增层法之一的“Pactel法”。[1]
1984年，NTT开发了薄膜回路的“CopperPolyimide法”。[1]
1988年，西门子公司开发了MicrowiringSubstrate的增层印刷电路板。[1]
1990年，IBM开发了“表面增层线路”（SurfaceLaminarCircuit，SLC）的增层印刷电路板。[1]
1995年，松下电器开发了ALⅣH的增层印刷电路板。[1]
1996年，东芝开发了B2it的增层印刷电路板。[1]
就在众多的增层印刷电路板方案被提出的1990年代末期，增层印刷电路板也正式大量地被实用化。
为大型、高密度的印刷电路板装配（PCBA,printedcircuitboardassembly）发展一个稳健的测试策略是重要的，以保证与设计的符合与功能。除了这些复杂装配的建立与测试之外，单单投入在电子零件中的金钱可能是很高的-当一个单元到最后测试时可能达到25,000美元。由于这样的高成本，查找与修理装配的问题是重要的步骤。今天更复杂的装配大约18平方英寸，18层；在顶面和底面有2900多个元件；含有6000个电路节点；有超过20000个焊接点需要测试。
在朗讯加速的制造工厂（N.Andover,MA），制造和测试艺术级的PCBA和完整的传送系统。超过5000节点数的装配对我们是一个关注，因为它们已经接近我们现有的在线测试（ICT,incircuittest）设备的资源极限（图一）。我们制造大约800种不同的PCBA或“节点”。在这800种节点中，大约20种在5000~6000个节点范围。可是，这个数迅速增长。
新的开发项目要求更加复杂、要有更大的PCBA和更紧密的包装。这些要求挑战我们建造和测试这些单元的能力。更进一步，具有更小元件和更高节点数的更大电路板可能将会继续。例如，正在画电路板图的一个设计，有大约116000个节点、超过5100个元件和超过37800个要求测试或确认的焊接点。这个单元还有BGA在顶面与底面，BGA是紧接着的。使用传统的针床测试这个尺寸和复杂性的板，ICT一种方法是不可能的。
在制造工艺，特别是在测试中，不断增加的PCBA复杂性和密度不是一个新的问题。意识到的增加ICT测试夹具内的测试针数量不是要走的方向，我们开始观察可代替的电路确认方法。看到每百万探针不接触的数量，我们发现在5000个节点时，许多发现的错误（少于31）可能是由于探针接触问题而不是实际制造的缺陷（表一）。因此，我们着手将测试针的数量减少，而不是上升。尽管如此，我们制造工艺的品质还是评估到整个PCBA。我们决定使用传统的ICT与X射线分层法相结合是一个可行的解决方案。
什么是软件功能测试？
功能测试和探索性测试的区别是什么
功能测试，需要依照事前制定好的测试用例来执行测试。探索性测试，不会事前制定测试用例，是在测试中边设计边执行。其实在功能测试中也有探索性测试的使用，因为测试用例不可能细化到每个细节，测试人员在执行时肯定会做一些探索性测试。探索性测试一般在测试初期对产品不了解时，或者到了后期在现有测试用例基础上发布不了bug时使用。还有在安全性测试中，探索性测试肯定要经常被用到。
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